Головне обладнання Лабораторії – рентгенівський дифрактометричний комплекс “STOE Transmission Diffractometer System STADI P” (STOE AUTOMATED DIFFRACTOMETER FOR POWDER) для методу полікристалу. Його виробником є одна із найстаріших у цій галузі та відомих у світі компанія "STOE & Cie GmbH" (м. Дармштадт, Німеччина). Обладнання належним чином обліковане, атестоване, має необхідні експлуатаційні документи та забезпечується профілактичним оглядом, а у разі необхідності – ремонтом силами співробітників та інших спеціалістів. Обладнання Лабораторії перебуває на балансі Університету. Обладнання також сертифіковане “Міжнародним Центром Дифракційних Даних” (ICDD).

За наведеними нижче посиланнями представлені документи та інформація щодо технічних характеристик обладнання та його складових, дані про можливості приладу, тощо.

Офіційна сторінка STOE STADI P – опис приладу на сайті виробника.
Офіційна сторінка STOE – опис додаткових складових обладнання (приставок, детекторів).
Опис приладу – характеристики юстування дифрактометра згідно стандартів “The International Centre for Diffraction Data” (ICDD)
Опис та можливості приладу - витяги із наукового семінару "Фізика 10-9" ЛНУ ім. І.Франка
Презентація дифрактометра STOE STADI P - опис дифрактометра та приклади досліджень

На даний час комплектація обладнання є стандартною: один горизонтальний гоніометр на проходження, увігнутий монохроматор (монокристал (111) Германію), лінійний позиційно-чутливий детектор, приставки "STOE Transmission Sample Holder" (метод на проходження) та "STOE Capillary Sample Holder" (метод Дебая-Шеррера). У майбутньому планується доукомплектування приладу 2-им горизонтальним гоніометром (геометрія по Бреггу-Брентано на відбиття), приставкою на відбиття "STOE Reflection Sample Holder" та високотемпературною камерою "STOE High Temperature Furnace model 0.65.1" з метою збільшення кількості зразків для дослідження, прецизійних досліджень у геометрії на відбиття для поверхневих об’єктів, здійснення високотемпературної рентген-дифрактометрії.

У зв’язку з відносно високою вартістю обладнання та його можливостями головна перевага у дослідженнях надається високоякісній прецизійній зйомці (середня тривалість 24 год.), обробка результатів якої дає змогу розшифрувати чи повністю уточнити кристалічну структуру речовини, оцінити параметри ближнього порядку, вивчити мікроструктурні ефекти у досліджуваних об’єктах, тощо. За наведеними нижче посиланнями представлені деякі приклади проведених досліджень із використанням дифрактометра STOE STADI P. Частину тексту цих документів можна використати як взірці при написанні розділів “Методика експерименту”, “Результати експерименту”, “Література” наукової статті, тез, дисертаційної роботи, тощо.

Визначення кристалічної структури – розшифровка і уточнення кристалічної структури методом порошку (зйомка у капілярі по геометрії Дебая-Шеррера, гігроскопічний об’єкт) нової сполуки OsSe2Br12 власного структурного типу.
[Волков С.В., Демченко П.Ю., Аксельруд Л.Г., Гладышевский Р.Е., Пехньо В.И., Фокина З.А., Янко О.Г., Харькова Л.Б. Кристаллическая структура селенобромида осмия OsSe2Br12 // Журнал Неорганической Химии. – 2011. – Т. 56, № 3. – С. 428–432.].
Визначення кристалічної структури – розшифровка і уточнення кристалічної структури методом порошку (зйомка по геометрії на проходження STOE) нової сполуки-суперіоніка Ag6SnS4Br2 власного структурного типу.
[Mykolaychuk O.G., Moroz M.V., Demchenko P.Yu. Synthesis and electroconductivity of new superionic compound Ag6SnS4Br2 // Physics of the Solid State. – 2010. – Vol. 52, Is. 2.– P. 221-224.] [Mykolaychuk O.G., Moroz M.V., Demchenko P.Yu., Akselrud L.G., Gladyshevskii R.E. Phase relations in the Ag8SnS6–Ag2SnS3–AgBr system and crystal structure of Ag6SnS4Br2 //Inorganic Materials. – 2010. – Vol. 46, No. 6. – P. 590–597.]
Уточнення кристалічної структури – рентгенівський якісний та кількісний фазовий аналіз, рентгеноструктурний аналіз нових сполук KRW(CN)8·7H2O триклинної сингонії методом порошку.
[Семенишин Д.І., Типіло І.В., Демченко П.Ю., Гладишевський Р.Є. Нові октаціаномолібдати (IV) й октаціановольфрамати (IV) деяких рідкісноземельних елементів // Наук. вісник Волин. нац. ун-ту. Хім. науки. – 2009. – № 29. – С. 8-13.]
Уточнення кристалічної структури – рентгенівський фазовий аналіз, рентгеноструктурний аналіз фосфатів рідкісноземельних металів – матеріалів для люмінесценції.
[Shalapska T., Stryganyuk G., Demchenko P., Voloshinovskii A., Dorenbos P. Luminescence properties of Ce3+-doped LiGdP4O12 upon vacuum-ultraviolet and X-ray excitation // J. Physics: Condensed Matter. – 2009. – Vol. 21, No. 44. – P. 445901 (8pp); Shalapska T., Stryganyuk G., Romanyshyn Yu., Trots D., Demchenko P., Gektin A., Voloshinovskii A., Dorenbos P. Photon cascade luminescence from Pr3+ ions in LiPrP4O12 polyphosphate // J. Phys. D: Appl. Phys. – 2010. – Vol. 43, N. 40. – P. 405404 (7pp).].
Мікроструктурні дослідження – вивчення змін параметрів мікроструктури під дією магнітного поля за допомогою рентгенівського аналізу для монокристалічного Силіцію КДБ-10 та КЭФ-4.5. [Trachevsky V.V., Steblenko L.P., Demchenko P.Y., Koplak O.V., Kuryliuk A.M., Melnik A.K. Changes in the state of paramagnetic centers and lattice parameter of micro-structured Si under the influence of weak magnetic field // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics. – 2010. – Vol. 13, N 1. – P. 87-90. Стебленко Л.П., Мудрий С.І., Коплак О.В., Демченко П.Ю. Дефектно-структурні зміни в приповерхневих шарах n-Si // VII Міжнародна Школа-Конференція «Актуальні проблеми фізики напівпровідників» / Тези доповідей, 28.09.-01.10.2010. – Дрогобич, Україна, 2010. – С. 182–183.].
Ближній порядок, мікроструктурні дослідження – дослідження параметрів ближнього порядку для аморфного зразку SiO2 (90 %) + V2O5 (10%) (матеріали для каталізу), кристалічних ZnO та SiO2.
[Shevchuk V.N., Popovych D.I., Usatenko Yu.N., Demchenko P.Yu., Serkiz R.Ya. Structure features and paramagnetic centres in oxide nanopowders // Functional Materials. – 2009. – Vol. 16, No.4. – P. 448-455].